میکروسکوپ نیروی اتمی 

  میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy) با نام متداول AFM از روش های میکروسکوپ پروب روبشی ست. میکروسکوپ نیروی اتمی  برای غلبه بر مشکل اساسی STM که فقط  توانایی تصویربرداری از سطوح رسانا یا نیمه رسانا را دارد توسعه داده شد. روش AFM، که پیشتر با نام میکروسکوب نیرو-روبشی (scanning-force Microscopy) یا SFM نیز شناخته می شد، توانایی ردیابی توپولوژی نمونه ها در حد بسیار بالا و در سطح اتمی را داراست.

   در روش AFM با استفاده از یک انبرک با نوک بسیار تیز (در حد اتم) سطح نمونه جارو (اسکن) می شود. عبور نوک از پستی بلندی های سطح نمونه، و اعمال نیرو های سطح نمونه به نوک انبرک، سبب انحراف انبرک می شود. ثبت تغییرات جزیی انبرک با استفاده از یک پرتو لیزری و آشکارساز حساس به موقعیت امکان تصویربرداری از توپولوژی سطح یا نقشه پستی بلندی های سطح را به کمک کامپیوتر فراهم می کند… ادمه مطلب