تصویربرداری سطح

میکروسکوپ نیروی اتمی-AFM-آنالیوم آنالیز میکروسکوپی

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

  میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy) با نام متداول AFM از روش های میکروسکوپ پروب روبشی ست. میکروسکوپ نیروی اتمی  برای غلبه بر مشکل اساسی STM که فقط  توانایی تصویربرداری از سطوح رسانا یا نیمه رسانا را دارد توسعه داده شد. روش AFM، که پیشتر با نام میکروسکوب نیرو-روبشی (scanning-force Microscopy) یا SFM نیز شناخته می شد، توانایی ردیابی توپولوژی نمونه ها در حد بسیار بالا و در سطح اتمی را داراست.    در روش AFM با استفاده از…
میکروسکوپ الکترونی عبوری-TEM-آنالیوم آنالیز میکروسکوپی

میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)

  میکروسکوپ الکترونی عبوری (Transmission Electron Microscope) با نام متداول TEM، یک ابزار آنالیزی برای دیدن نمونه ها در محدوده میکرومتر  (i10-6 m) تا نانومتر (i10-9 m) است. اساس روش TEM مشابه روش های میکروسکوپی نوری ست. اما در روش TEM  از پرتو الکترونی به جای پرتو نوری استفاده می شود و به همین علت جزئیات و پیچیدگی هایی غیرقابل دسترس با میکروسکوپ نوری در تصاویر TEM به راحتی قابل مشاهده خواهد بود.  میکروسکوپ الکترونی عبوری قوی ترین میکروسکوپ است که…
طیف سنجی جرمی یون ثانویه-SIMS- آنالیوم طیف سنجی جرمی

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS)

   طیف سنجی جرمی یون ثانویه (Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS)   با اسم متداول و اختصاری SIMS یکی از قوی ترین تکنیک های مورد استفاده در مطالعات سطح است. در این روش پرتوی از یون های اولیه پرانرژی (kVه30-1) به سطح نمونه ای که در خلاء قرار داده شده، تابانده می شود. یون سزیوم (+Cs)، یون گالیم (+Ga) یا یون اکسیژن (+O2) معمولا به عنوان یون های اولیه به کار می روند. بر اثر برخورد یون های پرانرژی قسمتی از…