طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس

   طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس  (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF ، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربرد گسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد. اساس روش XRF این است که اتم های ویژه، وقتی با یک منبع پرقدرت خارجی تهییج می شوند، فوتون های ایکس با طول موج یا انرژی های مشخصه ای نشر می کنند. با شمارش تعداد هر انرژی نشر شده از یک نمونه، اندازه گیری کمی و کیفی عنصری امکان پذیر می گردد.

  مشابه طیف بینی نشر اشعه ایکس (XES) و طیف بینی نشر اوژه (AES) ، در طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس هم پرتو الکترونی اولیه پرقدرت منبع، الکترونی را از ترازهای داخلی (K یا L) به بیرون می راند . در مرحله بعدی الکترون های لایه بیرونی با نشر اشعه ایکس ثانویه به حفره خالی لایه داخلی سقوط می کنند . با اندازه گیری انرژی فوتون فلورسانس پرتو ایکس اتم قابل شناسایی خواهد بود. انررژی پرتو نشر شده به سطح انرژی اتمی و عدد اتمی عنصر وابسته است… ادامه مطلب