طیف بینی فوتوالکترونی پرتو ایکس

   طیف بینی فوتوالکترونی پرتو ایکس (X-ray Photoelectron Spectroscopy) با نام اختصاری XPS یک تکنیک آنالیز سطح است که اطلاعات شیمیایی و ترکیبی سطح را فراهم می کند. این روش در مواردی به نام طیف  بینی الکترونی برای آنالیز شیمیایی (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) با نام اختصاری ESCA، نیز شناخته می شود. در این روش شناسایی تمام عناصر جز هیدروژن و هلیم امکان پذیر است. همچنین این روش توانایی تعیین حالت اکسایش عناصر و نوع پیوند شیمیایی را نیز داراست. هم نمونه های رسانا و هم غیررسانا با این روش قابل آنالیز هستند بنابراین این تکنیک کاربرد گسترده ای هم برای مواد آلی و هم معدنی دارد.

  در روش XPS، برخورد فوتون های یک منبع اشعه ایکس یا منبع UV سبب خروج فوتو الکترون از ترازهای مختلف اتم می شود . به این ترتیب الکترون های مختلف با انرژی های متفاوتی از اتم نشر می شود… ادامه مطلب