توپولوژی سطح

  میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy) با نام متداول AFM از روش های میکروسکوپ پروب روبشی ست. میکروسکوپ نیروی اتمی  برای غلبه بر مشکل اساسی STM که فقط  توانایی تصویربرداری از سطوح رسانا یا نیمه رسانا را دارد توسعه داده شد. روش AFM، که پیشتر با نام میکروسکوب نیرو-روبشی (scanning-force Microscopy) یا SFM نیز شناخته می شد، توانایی ردیابی توپولوژی نمونه ها در حد بسیار بالا و در سطح اتمی را داراست.    در روش AFM با استفاده از…