طیف بینی پرتو ایکس

آشکارسازهای طیف بینی پرتو ایکس

 همان طور که در قسمت مبانی طیف سنجی پرتو ایکس گفته شد، صفحات حساس عکاسی جزو اولین آشکارسازهای مورد استفاده برای تشخیص پرتو ایکس بودند. امروزه با پیشرفت تکنولوژی آشکارسازهای طیف بینی پرتو ایکس بر مبنای تبدیل انرژی تابشی به سیگنال الکتریکی عمل می کنند. هر پالس انرژی الکتریکی به صورت کوانتوم انرژی در مبدل جذب و شمارش می شود. یک آشکارساز ایده آل باید پاسخ سریعی داشته باشد. هرچه شدت تابش بیشتر باشد سرعت پالس بالاتر می رود و…

طیف بینی فوتوالکترونی پرتو ایکس (XPS)

   طیف بینی فوتوالکترونی پرتو ایکس (X-ray Photoelectron Spectroscopy) با نام اختصاری XPS یک تکنیک آنالیز سطح است که اطلاعات شیمیایی و ترکیبی سطح را فراهم می کند. این روش در مواردی به نام طیف بینی الکترونی برای آنالیز شیمیایی (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) با نام اختصاری ESCA، نیز شناخته می شود. در این روش شناسایی تمام عناصر جز هیدروژن و هلیم امکان پذیر است. همچنین این روش توانایی تعیین حالت اکسایش عناصر و نوع پیوند شیمیایی را نیز…

طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس بازتابش کلی (TXRF)

   طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس بازتابش کلی (Total-Reflection X-ray Fluorescence Spectroscopy) یا به اختصار TXRF، اساسا یک تکنیک تجزیه ای مشابه طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس پاشنده انرژی یا EDXRF  است که ژئومتری تهییجی ویژه ای دارد. این ژئومتری با تنظیم جای نمونه در زاویه کمتر از 0.1 درجه (0.06 درجه) نسبت به پرتو اولیه  حاصل می شود.   یاد آوری می شود که زاویه نرمال تابش پرتو اولیه در روش EDXRF تقریبا 45 درجه است. در روش XRF…

طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

   طیف بینی فلورسانس پرتو ایکس  (X-ray Fluorescence Spectroscopy) با نام متداول XRF، یک تکنیک آنالیز عنصری ست که کاربرد گسترده ای در تحقیقات و صنعت دارد. اساس روش XRF این است که اتم های ویژه، وقتی با یک منبع پرقدرت خارجی تهییج می شوند، فوتون های ایکس با طول موج یا انرژی های مشخصه ای نشر می کنند. با شمارش تعداد هر انرژی نشر شده از یک نمونه، اندازه گیری کمی و کیفی عنصری امکان پذیر می گردد.  …

طیف بینی نشر پرتو ایکس (XES)

  در طیف بینی نشر اشعه ایکس (X-Ray Emission Spectroscopy) یا XES، یک پرتو الکترونی یا پرتو ایکس اولیه، الکترونی را از ترازهای داخلی به بیرون می راند (شماره 1 شکل 1) و در مرحله بعدی الکترون های لایه بیرونی به با سقوط به تراز خالی داخلی حفره ایجاد شده را پر کرده و اشعه ایکس ثانویه ای نشر می کنند (شماره 2 و 3 شکل 1). شکل 1 مکانیسم نشر در طیف بینی نشر اشعه ایکس را نشان داده است.…

پراش پرتو ایکس (XRD)

   پراش پرتو ایکس (X-ray diffraction)، با نام اختصاری و متداول XRD، تکنیکی قدیمی و بسیار شناخته شده در بررسی ساختار و خصوصیات کریستال هاست.  اساس روش XRD پراش پرتو ايکس تک رنگ، توسط اتم های یک ماده است. به طور کلی پراش زمانی اتفاق می افتد که نور به یک مانع برخورد می کند. با برخورد به مانع، پرتو نوری یا خم شده و پخش می شود و یا از منافذ ریز روی مانع عبور می کند. پدیده پراش…

طیف بینی نشر اوژه (AES)

    طیف بینی نشر اوژه (Auger Emission Spectroscopy) با نام اختصاری AES یک تکنیک ویژه سطح است و در واقع روش اوژه متداول ترین روش آنالیز سطح برای تعیین ترکیب لایه های سطح یک نمونه است.     مشابه طیف بینی نشر اشعه ایکس (XES)، در طیف بینی نشر اوژه  هم یک پرتو الکترونی اولیه (از منبع)، الکترونی را از ترازهای داخلی به بیرون می راند (شماره 1 شکل 1). این مرحله یونیزاسیون اتمی است. در مرحله بعدی الکترون…

طیف بینی جذب پرتو ایکس (XAS)

طیف بینی جذب پرتو ایکس    پرتو ایکس فرودی از منبع، وقتی به نمونه برخورد می کند، پراکنده، جذب یا نشر می شود. مشابه روش های جذبی، در طیف بینی جذب پرتو ایکس (X-Ray Absorption Spectroscopy) با نام اختصاری XAS شدت پرتو ایکس با عبور از نمونه کاهش می یابد (شکل 1). جذب یک کوانتوم پرتو ایکس، سبب خارج شدن الکترون های لایه های درونی اتم شده و در نتیجه یک یون برانگیخته تولید می شود. بیشترین احتمال جذب زمانی اتفاق می…

مبانی طیف بینی پرتو ایکس

  طیف بینی پرتو ایکس (X-ray spectroscopy)، شامل مجموعه ای از روش های طیف بینی برای شناسایی مواد با استفاده از پرتو ایکس است. پرتو ایکس یا اشعه ایکس، تابش الکترومغناطیس ناشی از کنده شدن الکترون های پرانرژی و یا انتقال آنها به لایه های داخلی اتم هاست. گستره پرتو ایکس، با محدوده طول موجی 0.1-100 آنگسترم و انرژی 120 الکترون ولت تا 120 کیلو الکترون ولت، بین امواج ماوراء بنفش (UV) و پرتو گاماست. تکنیک های طیف سنجی به…